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2023-12-20 发布于四川
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一种LED支架缺陷检测方法及系统.pdf

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本发明提供一种LED支架缺陷检测方法及系统，方法包括获取LED支架的图像信息并转换为灰度直方图，并得到二值化图像；以高斯核进行高斯平滑，得到胶底的轮廓信息，对轮廓信息进行检测，得到胶底的缺陷特征；对图像信息进行预分割，获取杯台二值图像；对杯台二值图像依次进行差分运算及开运算，提取LED支架杯台的缺陷特征；对灰度直方图依次进行卷积运算及圆检测，分割出杯口信息，提取杯口信息的缺陷特征；将图像信息转化为对应的HSV图像，计算HSV图像的平均饱和度，提取LED支架中铜底的缺陷特征。本发明通过分别对LED

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117252876A

(43)申请公布日2023.12.19

(21)申请号202311532254.3G06V10/56(2022.01)

(22)申请日2023.11.

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