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2023-12-23 发布于四川
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一种S型反相器链电荷共享测试结构.pdf

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本发明提供了一种S型反相器链电荷共享测试结构，在重离子试验中，电子器件面临着许多挑战，如单粒子效应。为了解决这些问题，需要一种有效的测试结构。S型反相器链(SLIC)测试结构是一种被广泛使用的测试结构，但是现有的SLIC测试结构不能够分离测量轰击NMOS和轰击PMOS的电荷共享效应，这限制了其在重离子试验中的应用。本发明提供的S型反相器链电荷共享测试结构能够分离测量轰击NMOS和轰击PMOS的电荷共享效应，在重离子试验中具有较高的应用价值。同时，该测试结构具有较高的测量精度和稳定性，可靠性较高。

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117269636A

(43)申请公布日2023.12.22

(21)申请号202310935457.0

(22)申请日2023.07.27

(71)申请人中国人民解放军国防科技大学

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