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本发明公开了一种用于层析PIV试验的相机自校准系统和方法，自校准系统包括旋转台、激光测距仪、平移台、控制单元和分析单元，相机和测距仪设置在旋转台上，旋转台在控制单元的控制下进行角度调整，平移台设置在旋转台下方，可在控制单元的控制下沿着前后左右四个方向进行位置调整。在校准时，通过多台自校准系统搭载不同位置的相机，并通过分析单元分析相机获取到的标定板信息，得出相机需要调整的角度和距离，进一步控制旋转台和平移台按照得出的结果进行角度和位置的调整，直至相机标定板信息误差小于预设精度要求。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117278739A
(43)申请公布日2023.12.22
(21)申请号202310968458.5
(22)申请日2023.08.02
(71)申请人哈尔滨工程大学
地址15000
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