基于轴孔类工件内孔成像的位姿检测方法.pdfVIP

基于轴孔类工件内孔成像的位姿检测方法.pdf

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本发明公开了一种基于轴孔类工件内孔成像的位姿检测方法,该方法包括:采集工件的内孔图像,并确定内孔图像的椭圆参数,其中椭圆指向工件内孔;基于椭圆参数和工件内孔的半径,确定出工件内孔的两组位姿参数;判断工件内孔与采集单元之间的水平距离是否不大于第一距离阈值;若不大于,则基于内孔图像的椭圆在不同角度中的灰度均值,从两组位姿参数中确定真实位姿参数,得到位姿检测结果。该方法针对工件的内孔中心位于相机光轴附近时,利用工件端面的灰度分布去除二义性干扰问题。充分利用图像信息,降低位姿检测过程中的二义性去除的平均

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117274213A

(43)申请公布日2023.12.22

(21)申请号202311286480.8G06T7/13(2017.01)

(22)申请日2023.10.0

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