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2023-12-28 发布于四川
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一种用于芯片老化测试系统的防磨损机构.pdf

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本实用新型涉及芯片老化测试相关技术领域，且公开了一种用于芯片老化测试系统的防磨损机构，包括柜体框架，所述柜体框架的内侧平行安装有多个相互对应的金属轨道板，金属轨道板上开设有用于安装产品上下料的导槽，相对应的导槽之间滑动设置有金属托板架，金属托板架的上表面通过多个定位螺栓与PCB产品板相连接。该用于芯片老化测试系统的防磨损机构，通过设置金属托板架，有效增加PCB产品板的支撑接触面积，从而有效降低PCB产品板的接触磨损，避免PCB产品板过度磨损影响结构之间的配合，降低PCB产品板磨损产生的粉尘污染，

(19)国家知识产权局

(12)实用新型专利

(10)授权公告号CN220252103U

(45)授权公告日2023.12.26

(21)申请号202321352149.7

(22)申请日2023.05.31

(73)专利权人无锡德华仕环境科技有限公司

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