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本公开涉及一种评估双玻组件可靠性的方法。该方法包括在通过外观分析判断一批双玻组件的外观无异常后进行以下测试：交联率测试，对从一批双玻组件中的双玻组件扣样的样品检测交联率；扣样表征测试，对从双玻组件扣样的另外样品进行胶膜厚度测量；以及烘烤测试，对一批双玻组件中的另外双玻组件整体进行烘烤，在交联率测试获得的交联率满足预定交联率、扣样表征测试获得的胶膜厚度满足预定厚度、并且烘烤测试后另外双玻组件外观无异常时，判断所述一批双玻组件通过脱层和/或气泡风险评估。通过该方法，能够方便快速地评估组件的气泡、脱层
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117316794A
(43)申请公布日2023.12.29
(21)申请号202311241085.8G01N33/38(2006.01)
(22)申请日2023.09.
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