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同济大学电子与信息工程学院实验中心实验报告

实验课程名称： 自动控制原理

任课教师： 王中杰

实验项目名称：二阶开环系统的频率特性曲线

二阶开环系统的频率特性曲线

实验要求

研究表征系统稳定程度的相位裕度丫和幅值穿越频率°c对系统的影响。

了解和掌握二阶开环系统中的对数幅频特性L?)和相频特性9(①)，实频特性Re(o)

和虚频特性Im(o)的计算。

了解和掌握欠阻尼二阶开环系统中的相位裕度丫和幅值穿越频率°c的计算。

观察和分析欠阻尼二阶开环系统波德图中的相位裕度Y和幅值穿越频率3°,与计算值作比对。

实验内容及步骤

本实验用于观察和分析二阶开环系统的频率特性曲线。

由于I型系统含有一个积分环节，它在开环时响应曲线是发散的，因此欲获得其开环频率特性时，还是需构建成闭环系统，测试其闭环频率特性，然后通过公式换算，获得其开环频率特性。

计算欠阻尼二阶闭环系统中的幅值穿越频率3c、相位裕度Y:

幅值穿越频率： 气=①〃X\|J1+44—22 (3-2-3)

2

相位裕度： 丫=180+9(①°)=arctan ； = (3-2-4)

Y值越小，Mp%越大，振荡越厉害；Y值越大，Mp%小，调节时间ts越长，因此为使二阶闭环系统不致于振荡太厉害及调节时间太长，一般希望：

30°WYW70° (3-2-5)

本实验以第3.2.2节〈二阶闭环系统频率特性曲线〉为例，得：

3c=14.186 Y=34.93°

本实验所构成的二阶系统符合式(3-2-5)要求。

被测系统模拟电路图的构成如图3-2-2所示。(同二阶闭环系统频率特性测试构成)

本实验将数/模转换器(B2)单元作为信号发生器，自动产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化(0.5Hz?16Hz)，OUT2输出施加于被测系统的输入端r(t)，然后分别测量被测系统的输出信号的开环对数幅值和相位，数据经相关运算后在虚拟示波器中显示。

实验步骤：

将数/模转换器(B2)输出OUT2作为被测系统的输入。

构造模拟电路：安置短路套及测孔联线表同笫3.2.2节《二阶闭环系统的频率特性曲线测试》。

运行、观察、记录：

将数/模转换器(B2)输出OUT2作为被测系统的输入，运行LABACT程序，在界面的自动控制菜单下的线性控制系统的频率响应分析-实验项目，选择二阶系统，就会弹出虚拟示波器的界面，点击开始，实验开始后，实验机将自动产生0.5Hz?16H等多种频率信号，等待将近十分钟，测试结束后，观察闭环对数幅频、相频曲线和幅相曲线。

待实验机把闭环频率特性测试结束后，再在示波器界面左上角的红色‘开环或也坯字上双击，将在示波器界面上弹出开环/闭环选择框，点击确定后，示波器界面左上角的红字，将变为开坯然后再在示波器界面下部频率特性选择框点击(任一项)，在示波器上将转为‘开环’频率特性显示界面。可点击界面下方的“频率特性”选择框中的任意一项进行切换，将显示被测系统的开环对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和幅相曲线（奈奎斯特图）。

在‘开环’频率特性界面上，亦可转为‘闭环’频率特性显示界面，方法同上。

在频率特性显示界面的左上角，有红色开环’或闭环’字表示当前界面的显示状态。

图3-2-4的被测二阶系统的开环对数幅频曲线的实验结果见图3-2-6所示。

显示该系统用户点取的频率点的3、L、中、Im、Re

实验机在测试频率特性结束后，将提示用户用鼠标直接在幅频或相频特性曲线的界面上点击所需增加的频率点（为了教育上的方便，本实验机选取的频率值f，以0.1Hz为分辨率，例如所选择的信号频率f值为4.19Hz，则被认为4.1Hz送入到被测对象的输入端），实验机将会把鼠标点取的频率点的频率信号送入到被测对象的输入端，然后检测该频率的频率特性。检测完成后在界面上方显示该频率点的f、3、L、甲、Im、Re相关数据，同时在曲线上打‘十字标记’。如果增添的频率点足够多，则特性曲线将成为近似光滑的曲线。

鼠标在界面上移动时，在界面的左下角将会同步显示鼠标位置所选取的角频率3值及幅值或相位值。

在\Aedk\LabACT\两阶频率特性数据表中将列出所有测试到的频率点的开环乙、甲、Im、Re等相关数据测量。注：该数据表不能自动更新，只能用‘关闭后再打开’的办法更新。

幅值穿越频率3叩相位裕度Y的测试：

在开环对数幅频曲线中，用鼠标在曲线L（3）=0处点击一下，待检测完成后，就可以根据‘十字标记’测得系统的幅值穿越频率3c，见图3-2-6（a）；同时还可在开环对数相频曲线上根据‘十字标记’测得该系统的相位裕度Y。实验结果可与式（3-2-11）和（3-2-12）的理论计算值进行比对。

注1：用户用鼠标只能在幅频或相频特性曲线的界面上点击所需增加