存储芯片测试方法及装置、介质及设备.pdfVIP

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2024-01-06 发布于四川
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本公开是关于一种存储芯片测试方法、存储芯片测试装置、计算机可读存储介质及电子设备，涉及集成电路技术领域。该存储芯片测试方法包括：向存储芯片发送模式寄存器写入命令，控制存储芯片进入读写时钟均衡测试模式；设定第一预设时间，等待第一预设时间后，向存储芯片发送读写时钟信号；根据第一预设时间和系统时钟周期，确定读写时钟均衡的预测值；发完读写时钟信号后等待第二预设时间，检测存储芯片的测试数据输出端口，获取测试值；比较测试值和预测值，判断存储芯片是否存在异常。本公开提供一种对读写时钟均衡功能进行测试的方法。

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117352035A

(43)申请公布日2024.01.05

(21)申请号202210709222.5

(22)申请日2022.06.21

(71)申请人长鑫存储技术有限公司

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