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- 2024-01-06 发布于四川
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本公开实施例提供一种时序逻辑元件性能检查方法及设备，涉及半导体技术领域，在对待仿真电路进行检查时，获取待仿真电路中各个时序逻辑元件对应的性能检查文件，然后基于各个时序逻辑元件对应的性能检查文件，采用多种仿真波形分别对待仿真电路进行仿真，得到仿真结果；其中，上述性能检查文件可以在仿真过程中检查各个时序逻辑元件的目标特性参数是否满足预设条件，并在仿真结果中输出目标特性参数不满足预设条件的目标时序逻辑元件的标识信息，相较于人工检查的方式，不仅省时省力，而且准确性更高，从而能够有效提升集成电路的设计效率
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117350208A
(43)申请公布日2024.01.05
(21)申请号202210711774.X
(22)申请日2022.06.22
(71)申请人长鑫存储技术有限公司
地址23
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