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JTAG控制器的设计的开题报告

1.研究目的

本研究旨在设计一种JTAG控制器，用于测试和调试数字集成电路（IC）的电气功能和集成电路的设计策略，促进数字电路的研究和发展。

2.研究内容

JTAG控制器是一种嵌入式控制器，用于向JTAG端口发送测试模式序列（TMS）和测试数据序列（TDI），并获取从IC读取的测试输出序列（TDO）。本研究将重点关注以下内容：

-硬件设计：设计一个JTAG控制器电路板，包括电路图和PCB板，可实现高速、可靠的JTAG通信和数据传输。

-软件开发：编写嵌入式软件，用于与JTAG控制器通信，并在计算机上实现GUI（图形用户界面）控制JTAG控制器。

-测试集成电路：根据设计策略，测试和评估集成电路的功能和性能。

3.研究方法

本研究将采用工程设计方法，设计JTAG控制器电路板和编写嵌入式软件。该方法将分为以下步骤：

-前期调研：研究JTAG标准规范、JTAG测试技术、JTAG控制器电路板和软件开发工具等。

-系统设计：设计JTAG控制器电路板，包括硬件设计和PCB设计。

-软件开发：编写嵌入式软件，包括芯片初始化序列、TMS序列生成和TDO数据分析等。

-集成测试：测试JTAG控制器和集成电路的集成性能和功能，进行调试和验证。

4.研究意义

JTAG控制器是数字电路设计和测试中不可或缺的工具，能够大幅提升数字电路的研究和开发水平。本研究设计的JTAG控制器能够提高测试效率和数据传输的可靠性，同时减少测试成本和时间。

5.参考文献

-IEEEStandardTestAccessPortandBoundary-ScanArchitecture，IEEEStd1149.1-2013，2013

-嵌入式系统开发技术与实战，陈刚，杨一帆，苏媚前言

-集成电路测试，李平、赵平、邵仁军，机械工业出版社，2010