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本申请提供了一种划片高度补偿方法、装置及介质，包括：在划片台上选择N个位置点，将其中一个位置点确定为测高零点，其余位置点确定为测高位置点，测高零点的高度设置为零；以测高零点为基准测量各测高位置点相对于测高零点的高度值；获取划片机生成的划片参数，基于划片参数生成划片规划轨迹，划片规划轨迹从划片台的一侧延伸至另一侧的直线轨迹；将测高零点、各测高位置点及划片规划轨迹置于同一坐标系内；获取距离划片规划轨迹最近的M个位置点，其中，1
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117359807A
(43)申请公布日2024.01.09
(21)申请号202311455124.4
(22)申请日2023.11.03
(71)申请人北京中电科电子装备有限公司
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