现代材料分析方法-原子力显微镜.pptVIP

第五章原子力显微镜Ato;第15章其他显微分析方法;一、原子力显微镜原理;图3.1AFM原理图;1、检测系统悬;它的优点是具有低的垂直反射机械;4、扫描系统AFM对;5、反响控制系统AFM;二、原子力显微镜的分辨率;无标题;2.针尖因素;当针尖有污染时会导致针尖变钝(;图3.6不同侧面角针尖对样;三、原于力显微镜根本成像模式;无标题;这种静电排斥随探针与样品外表原;2.非接触成像模式;非接触式AFM不破坏样品外表，;3.敲击成像模式;敲击式AFM与接触式和非接触式;四、原子力显微镜工作环境;〔3〕液相环境：在液相环境中．;五、与AFM相关的显微镜及技术;通常人们用AFM扫描样品外表时;六、AFM假象;〔1〕针尖成像：AFM中大多数;(2)钝的或污染的针尖产生假象;(3)双针尖或多针尖假象：这种;(4)样品上污物引起的假象：当;七、AFM的应用1.形貌;AFM(a)andSEM;2.AFM在高分子科学方;在空气中扫描样品时，由于水膜的;无标题;(3)高分子组分分布研究;3.AFM在生物大分子中的应