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实验六移位寄存器及其应用

实验目的

掌握移位寄存器功能的测试方法

掌握4位双向移位寄存器的逻辑功能

实验仪器及设备

EEL-II型电工电子实验台

集成器件74LS194

实验内容

在数字实验箱中插入74LS194，按图6.1接线

图6.174LS194管脚排列图和逻辑功能测试图

接线完毕，检查无误后，进行基本功能测试

复位：=0，电路复位，QAQBQCQD=0000

保持：CR非=1，S1=S0=0，QA~QD状态不变

使=1，S1、S0（工作状态控制端）任意，CP=0或CP=1，则QA~QD状态也不变

表6.174LS194双向4位移位寄存器功能表

工作方式

复位

模式

时钟

串行

并行

QA

QB

QC

QD

S1

S0

DSL

DSR

A

B

C

D

复位

并行置数

右移

左移

保持

保持

并行置数：置=1，S1=S0=10，数据输入端DCBA置为0101，输入单次脉冲，则QDQCQBQA=0101，如果改变DCBA数据，再按单次脉冲，新数据将置入。

右移位：置=1，S1=0，S0=1，DSR=1，DSL=*，输入单次脉冲，则QA=1，QB=QAn，QC=QBn，QD=QCn

左移位：置=1，S1=1，S0=0，DSR=*，DSL=1，输入单次脉冲，则QD=1，QC=QDn，QB=QCn，QA=QBn

循环右移应用

如将上图中的DSR端接到QD端，并将寄存器QD~QA置为1000，且满足右移条件，在寄存器会右移一个“1”，每4个时钟脉冲完成一次循环。

用74LS194组成8位移位寄存器

原理如图6.2所示。

图6.2用74LS194组成8位移位寄存器原理图

实验报告

整理各项测试结果。