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本发明涉及图像处理技术领域，公开了一种去反光模型的训练方法、去反光模型和去反光方法。此训练方法可以基于第一训练数据和第一目标数据训练第一子模型，基于第二训练数据和第二目标数据训练第二子模型。第一训练数据包括第一样本图像，第一目标数据包括第一样本图像的光照图。第二训练数据包括第二样本图像和第一目标数据，第二目标数据包括第二样本图像的反射图像和第二样本图像的透射图像。其中第二样本图像的拍摄内容与第一样本图像的拍摄内容相同，第一波长范围内的第二样本图像的光强与第一样本图像的光强相同。此方法将第一样本图
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117422646A
(43)申请公布日2024.01.19
(21)申请号202311752567.XG06N3/0455(2023.01)
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