物质成分的光谱分析第六章x射线荧光光谱分析.pptx

物质成分的光谱分析

第六章X-射线荧光光谱分析

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1929年施赖伯(Schreiber)首次应用X射线荧光光谱分析

1948年制造了台用X光管的商品型X射线荧光谱仪

目前X射线荧光光谱分析已经成为高效率的现代化元素分析技术；被定为国标标准(ISO)分析方法之一

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强度：在物理学中规定，以单位时间内通过单位面积(垂直于射线方向)的光子总能量表示光的强度，用符号I表示。

在X射线光谱分析中X射线的强度定义为单位时间内探测器接收到的光子数，单位用

cps(CountParticle／Second)或Kcps表示。

;产生的机理：

连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受到靶原子核的库仑力作用，突然改变速度而产生的电磁辐射。由于在撞击时，有的带电粒子在一次碰撞中损失全部能量，有的带电粒子同靶发生多次碰撞逐步损失其能量，直到完全丧失为止，从而产生波长具有连续分布的电磁波。因此，它也称为轫致辐射、白色X射线或多色X射线。

;;▲当增加电流i时，短波限λ0和最大强度处的波长λmax不变，但最大强度增大；

▲当加速电压V增加时，最大强度处的波长向短波方向移动，最大强度也增大；

▲在加速电压和电流不变的情况下，用大Z的靶材时，短波限和最大强度处的波长不变，最大强度增大。;②特征光谱(单色X射线)：

特征光谱是若干具有一定波长而不连续的线状光谱，亦称标识光谱或单色X射线。它是当原子的内层电子出现空位而外层电子来填充时所发射出来的X射线。

碰撞→跃迁↑(高)→空穴→跃迁↓(低)

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特征光谱分为K、L、M…等谱系。

当原子内K层电子被打掉，外层电子跃迁到K层辐射出的X射线称为K系特征X射线；L层电子被打掉，外层电子跃迁到L层辐射出的X射线称为L系特征X射线；同样，M层电子被打掉，外层电子跃迁M层辐射出的X射线称为M系特征X射线；……。

由于原子内层出现空位时，可以从不同的外层电子跃迁到内层，辐射X射线的波长(或能量)是不一样的，所??每一个谱系又由若干谱线所组成。例如K系中有Kα1、Kα2、Kβ1……等谱线。

但是并不是所有的外层电子都可以跃迁到内层产生X射线，电子跃迁是遵守选择定则的。

;表6—1K系谱线;c.要产生K系谱线，必须将原子中K层电子打掉，并且轰击的粒子必须具有比K层电子逸出所作的功WK大。如果轰击粒子是电子，它的加速电压为（V），电子所具有的动能为（eVK），刚好等于K层电子逸出原子所需的能量。则

式中hνk为高速电子能量全部转化为X射线光子的能量，VK为激发K系X射线所需施加的最低电压，称为临界激发电压。

也就是说要激发K系X射线，加速电子所需电压V必须大于等于VK，否则是激发不出K系X射线的，λK称为激发限波长。

;使物质产生特征X射线光谱的方法除了用高能带电粒子轰击外，还有很多其它方法，见图（6－2）

(A)初级（电子）激发；

（B）二次（X射线或γ射线）激发；

（C）γ内转换；

（D）β内转换；

（E）轨道电子俘获。;图6—2(b)特征X射线光谱产生方式;6.1.2俄歇效应、荧光产额

当原子内层电子层出现空位，外层电子跃迁填充时多余的能量可以特征X射线放出，但是这种能量也可以改变原子本身的电子分布，从而在该原子内自己导致由外层射出一个或多个电子，这种现象叫做俄歇效应，由外层射出的电子称为俄歇电子。

俄歇效应的一个重要结果是：由于一部分高能粒子被原子吸收后产生俄歇电子，从而使原子中产生的特征X射线实际数目要比原子内层电子层出现空位数少。

;6.1.3X射线的吸收

X射线照射到物体上，一部分被物体散射，一部分被物体吸收，一部分透过物体。

1)质量吸收系数：一束X射线原来的强度为I0，通过一厚度为t的物体后，由于物体的吸收和散射使强度衰减为I，强度的衰减dI与入射X射线的强度I和物体的厚度dt成正比，其关系式为：

dI=-μlIdt(6－15)