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- 2024-01-27 发布于北京
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集成电路制造技术
ManufacturingTechnologyofIC
SchoolofMicroelectronics
XidianUniversity
2020.2
第二章氧化
作用:
a.杂质扩散掩蔽膜(选择、定域扩散);
b.器件表面保护或钝化膜,可靠性,稳定性;
c.MOS电容的介质材料;
d.MOSFET的绝缘栅材料;
e.电路隔离介质或绝缘介质;
f.固-固扩散源(硅化物,乳胶源),载体;
g.淀积SiN,中间应力过渡;
34
h.腐蚀掩膜(等离子刻蚀氢化硅);
制备:热氧化;热分解淀积;外延;阳极氧化;溅射法。
热氧化:SiO质量好,掩蔽能力强。
2
氧化及热处理
硅氧化成SiO2是IC的重要工艺步骤。IC选择掺杂工艺中,SiO2是
掺杂的主要屏蔽层。
SiO2是绝缘体,又可做引线与衬底,引线与引线之间的绝缘层。
氧化工艺是将硅片置于通有氧气气氛的高温
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