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  • 2024-01-27 发布于北京
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集成电路制造技术

ManufacturingTechnologyofIC

SchoolofMicroelectronics

XidianUniversity

2020.2

第二章氧化

作用:

a.杂质扩散掩蔽膜(选择、定域扩散);

b.器件表面保护或钝化膜,可靠性,稳定性;

c.MOS电容的介质材料;

d.MOSFET的绝缘栅材料;

e.电路隔离介质或绝缘介质;

f.固-固扩散源(硅化物,乳胶源),载体;

g.淀积SiN,中间应力过渡;

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h.腐蚀掩膜(等离子刻蚀氢化硅);

制备:热氧化;热分解淀积;外延;阳极氧化;溅射法。

热氧化:SiO质量好,掩蔽能力强。

2

氧化及热处理

硅氧化成SiO2是IC的重要工艺步骤。IC选择掺杂工艺中,SiO2是

掺杂的主要屏蔽层。

SiO2是绝缘体,又可做引线与衬底,引线与引线之间的绝缘层。

氧化工艺是将硅片置于通有氧气气氛的高温

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