一种AI芯片测试管理系统及方法.pdfVIP

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2024-01-27 发布于四川
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本发明公开了一种AI芯片测试管理系统及方法，属于芯片测试技术领域，解决了现有的性能模拟器无法适应AI芯片不断的迭代更新，使得性能测试结果不精准的问题，方法包括：在AI芯片架构中设置测试匹配器；基于预建立的测试匹配模型生成测试代码，AI芯片架构响应于测试指令，AI芯片架构CPU释放并执行测试代码；获取至少一组测试输出管脚上传的的时序测试数据，基于预设的测试评价模型加权计算AI芯片架构的性能健康度；本发明实施例能够针对不同类型和架构的AI芯片生成生成测试代码，从而提高测试代码与待测试AI芯片的匹配度

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117452184A

(43)申请公布日2024.01.26

(21)申请号202311411750.3

(22)申请日2023.10.30

(71)申请人恒烁半导体（合肥

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