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本发明公开了一种空间电子辐射与高压环境下介质内电荷积聚模拟方法。该方法综合考虑入射电子、外施高压电场、电荷输运迁移影响下的电场等因素，模拟跟踪空间高压功率机电组件等复杂机电结构的介质内部粒子注入、碰撞散射与输运过程。使用本发明能够实现在空间电子辐射与高工作电压耦合环境长期作用下的复杂机电结构介质内部电荷积聚动态过程的计算跟踪。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117454726A
(43)申请公布日2024.01.26
(21)申请号202311360649.X
(22)申请日2023.10.19
(71)申请人中国空间技术研究
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