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本申请提供一种阵列基板母板和阵列基板的测试方法；该阵列基板母板上设有测试电路，通过等效晶体管替代相同的薄膜晶体管，无需在阵列基板中对各薄膜晶体管进行测试，且多个等效晶体管的第一电极连接至第一测试端子、多个等效晶体管的第二电极连接至第二测试端子、各等效晶体管的栅极连接至测试晶体管，多个测试晶体管连接至第三测试端子，则可以同时对多个等效晶体管施加老化条件，提高测试效率，且各等效晶体管的栅极连接至一第四测试端子，测试晶体管的第二电极连接至测试晶体管的栅极，仅需要移动栅极对应的探针即可对单个晶体管进行测
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117476705A
(43)申请公布日2024.01.30
(21)申请号202311128723.5
(22)申请日2023.08.31
(71)申请人TCL华星光电技术有限公司
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