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基于高性能开阔场的EMC天线测量系统研究的中期报告

中期报告内容：

1.研究背景和目的

2.研究进展情况

3.设计和实现EMC天线测量系统

4.测量结果分析和讨论

5.接下来的工作计划

1.研究背景和目的

电磁兼容性（EMC）是电子工程领域中一个非常重要的问题，它涉及到电磁波对电子设备的影响和干扰。因此，为了保证电子设备的正常运行和可靠性，需要对其进行EMC测试和评估。而EMC测试的关键是测量一些参数，例如天线方向图、增益、辐射功率等等。在当前的EMC测试中，天线测量仪是必不可少的测量工具，因此研究高性能、开阔场的EMC天线测量系统对于提高EMC测试的精度和效率具有重要意义。

本研究的目的是设计和实现一种基于高性能开阔场的EMC天线测量系统，并进行天线性能的测量和分析。

2.研究进展情况

在前期研究中，我们主要进行了理论分析和模拟计算，确定了天线测量系统的主要参数和性能指标。基于理论分析和模拟计算，我们设计了一种高性能开阔场的EMC天线测量系统，并进行了系统的搭建和实现。具体来说，我们采用了全尺寸开阔场天线测量系统，该系统包括天线测量环境、测试天线、校准天线、信号源等组成部分，并利用NationalInstrument公司的LabVIEW软件进行控制和数据采集。

3.设计和实现EMC天线测量系统

系统结构：

如上图所示，整个系统包括工作站、光栅天线、信号源和数据采集卡等组成部分。

系统参数：

1.工作站：Lenovo台式电脑，4核心CPU，8G内存等。

2.光栅天线：频率覆盖范围0.5GHz~18GHz，可测量线性极化和圆极化天线。

3.信号源：RohdeundSchwarzSMA100B型信号发生器，频率范围9kHz~3GHz，输出功率范围-130dBm~+18dBm。

4.数据采集卡：NationalInstrument公司的PCIe-6363型高速多通道数据采集卡。

4.测量结果分析和讨论

在实验中，我们测量了一些不同类型的天线，例如线性极化天线、圆极化天线等，并对天线的方向图、增益、辐射功率等参数进行了测量和分析。具体来说，我们采用了近场远场转换和叠加原理等方法，将近场测量结果虚拟转换为相应的远场测量结果，并进行了误差分析。

5.接下来的工作计划

接下来，我们将继续优化和改进这个系统，并进一步拓展其实用性和适用范围。具体来说，我们计划从以下几个方面展开工作：

1.改进天线测量系统的稳定性和精度。

2.拓展系统的适用范围和频率覆盖范围。

3.将系统应用于实际工程中，例如航天、电子等领域。

4.与国内外相关研究机构合作，进行技术交流和研究。

5.推广系统的应用，为电子设备的EMC测试和评估提供重要支持。

以上是本研究的中期报告内容，感谢您的阅读。