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绕组线试验方法 第7部分:测定漆包绕组线温度指数的试验方法.pdf

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绕组线试验方法

第7部分:测定漆包和薄膜绕包绕组线温度指数的试验方法

1范围

本文件根据IEC60216-1规定了一种在空气和大气压力下通过定期监测交流试验电压的变化来评定

经浸渍漆浸渍或未浸渍的漆包线和薄膜绕包圆、扁线温度指数的试验方法。本试验方法不适用于纤维绝

缘线或无机纤维薄膜绕包线。

注:本试验方法得到的数据为设计和开发工程师提供了选择绕组线的信息,以便进一步评估绝缘结构和设备测试。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,

仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本

文件。

IEC60216-1确定电气绝缘材料耐热性能的指南第1部分:老化过程和试验结果评定(Electrical

insulatingmaterials–Thermalenduranceproperties–Part1:Ageingproceduresandevaluation

oftestresults)

IEC60216-3确定电气绝缘材料耐热性能的指南第3部分:计算方法(Electricalinsulating

materials–Thermalenduranceproperties–Part3:Instructionsforcalculatingthermal

endurancecharacteristics)

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1温度指数temperatureindex

温度指数用于比较电绝缘材料或简单材料组合的温度/时间特性,该温度(以摄氏度为单位)由温

度对应寿命的阿伦尼乌斯图外推至20000h寿命而得。

注1:在绝缘系统中,温度指数来自于已知的使用经验或已知的以评估和建立参考绝缘系统为基础的对比功能评估。

[来源:IEC60050-212:2010,212-12-11]将注1合并到定义中进行修改,并规定寿命为20000小

时。

3.2试样失效的时间specimenfailuretime

引起某个试样耐压试验失效的温度老化小时数。

3.3失效时间timetofailure

按8.2规定,从一个老化温度的一组试样的各试样失效时间计算得到的失效小时数。

4试验方法提要

1

使符合第5章规定的一组试样经受一个试验周期的试验。这个试验周期包括第6章规定的温度蓄热期

和第7章规定的室温耐压试验。

重复这样的试验周期直到足够数量的试样失效为止,然后按第8章的规定计算失效时间。试验在三

个或更多的温度点进行,按8.4计算回归线。在热寿命图纸上按老化温度的函数关系绘出失效时间值。

回归线与纵坐标20000h寿命线的交点所对应的温度(以摄氏度表示)即代表被试绕组线的温度指

数。

5试样

5.1试样的制备

5.1.1非薄膜绕包漆包圆线

本试验方法适用于非薄膜绕包漆包圆线。通过评定导体标称直径大于0.224mm小于或等于2.650mm

非薄膜绕包漆包圆线来确定热指数。

注:经验证明,选用导体标称直径大于0.224mm小于或等于2.650mm漆包圆线作试样,一般来说更利于操作和试验。

当导体标称直径限制在0.500毫米或更细时,允许使用导体标称直径大于0.224mm小于或等于

2.650mm的试样。

用于确定热指数的自黏绕组线绝缘等级应为2级或2B级。

试样应按如下方式制备:

a)用图1所示的设备将一段长约400mm的漆包圆线在125mm的距离内扭绞在一起。扭绞时施加在

线对上的力(重量)和扭绞数见表1。

图1制作试样用装置

表1试样的扭绞数和受力

2

标称直径施加于线对的力

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