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本发明公开一种薄膜电路陶瓷单面研磨方法,涉及陶瓷表面精磨加工工艺领域,包括步骤:步骤一,将贴有白膜的陶瓷基片对称贴合于涂抹有石蜡的陶瓷盘上;步骤二,将贴合陶瓷基片后的陶瓷盘冷却键合,用贴合白膜的胶垫压紧陶瓷基片与陶瓷盘,并使热融化的石蜡均匀挤出;步骤三,完成冷却后,取出陶瓷盘,测试贴蜡厚度误差,在陶瓷盘平面上较零,然后在陶瓷基片上五点测试法测试基片厚度至设定公差波动范围;步骤四,测量陶瓷盘的盘面达到设定平整度时,按照设定的固定间距时间进行研磨;步骤五,完成研磨,重测厚度,如合格则完成研磨;如不合
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117484376A
(43)申请公布日2024.02.02
(21)申请号202311711289.3
(22)申请日2023.12.13
(71)申请人广州天极电子科技股份有限公司
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