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一种适于量测待测物的光学参数的光学量测系统。待测物包括至少二透光层。光学量测系统包括光源模块、取像模块以及控制器。光源模块用以朝待测物发出至少二量测光束，其中量测光束分别以不同角度入射至待测物。取像模块用以接收量测光束被待测物反射后的至少二第一光束及量测光束在待测物间折射且反射后的至少二第二光束在取像模块的感测面上形成的多个光斑。控制器与取像模块电性连接，以取得光斑的位置。控制器根据光斑的位置，计算出待测物的光学参数。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117517302A
(43)申请公布日2024.02.06
(21)申请号202210900749.6
(22)申请日2022.07.28
(71)申请人刘建圣
地址中国台湾台南市东区
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