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本发明公开了一种GIS设备X射线检测辐射场计算方法，首先将GIS设备的金属壳体、内部SF6气体、盆式绝缘子和周围空气分别作为一个实体，每个实体均进行网格剖分，每个实体网格剖分后得到的单元个数为n，每个实体的单元个数n取值不同；然后X射线检测装置的X射线源相对于GIS设备进行透照，并在GIS设备金属壳体上X射线源透照位置所处的各单元施加单位激励载荷，采用有限元法计算实体各单元的激励响应后，对实体各单元的激励响应进行修正，最后计算实体各单元的X射线辐射强度。本发明引入有限元分析方法，实现了X射线辐射
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117517356A
(43)申请公布日2024.02.06
(21)申请号202311478739.9(51)Int.Cl.
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