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2024-02-24 发布于四川
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本发明提供一种接触阻抗测试方法及系统、接触测试方法、测试治具，接触阻抗测试方法应用于一芯片，芯片包括功能管脚、以及于功能管脚和接地端之间的串联连接的等效二极管防护模块和等效电阻模块；包括：步骤S1，构建一阻抗测试回路；步骤S2，施加一第一电流，基于基尔霍夫电压定律构建第一方程；步骤S3，施加一第二电流，基于基尔霍夫电压定律构建第二方程；步骤S4，根据第一方程和第二方程求解得到接触电阻。有益效果：通过施加不同的电流，基于基尔霍夫电压定律构建方程组，通过解方程的方法，有效的测量得到芯片测试时的接触阻

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117590075A

(43)申请公布日2024.02.23

(21)申请号202311317215.1

(22)申请日2023.10.11

(71)申请人荣湃半导体（上海）有限公司

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