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使用非随机故障分析法为LBIST设计提高故障检测能力

由于逻辑内建自测试（LogicBIST）向量的随机本质，使得采用LBIST的设计具有非随机模式，从而导致较低的故障覆盖范围。为了解决这一问题，本文在测试点插入非随机故障分析（RRFA）法。藉由故障模拟，完成LBIST设计的故障检测能力运算，有助于估计“测试质量”（qualityoftest）。本文将就此进行更详细的讨论，同时介绍可为LBIST设计提高故障检测能力的技术。

以LogicBIST定位故障

相较于更具确定性的生产扫描测试，采用LBIST的测试是一种伪随机测试。在LBIST测试中的扫描向量是由伪随机图形产生器（PRPG）所产生