1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

基于交织多路模式的芯片自动化测试用ALPG测试系统及方法.pdfVIP

  • 46
  • 0
  • 约1.31万字
  • 约 10页
  • 2024-02-28 发布于四川
  • 举报

基于交织多路模式的芯片自动化测试用ALPG测试系统及方法.pdf

    本发明公开了基于交织多路模式的芯片自动化测试用ALPG测试系统及方法，属于芯片自动化测试设备领域，包括ALPG模拟器、ALPG输出流库和ALPG运转模块；所述ALPG模拟器的输入端口和测试平台系统的输出端驱动接口交互连接，所述ALPG模拟器输出端口和第一ALPG输出流库和第二ALPG输出流库通信连接，所述ALPG模拟器和ALPG运转模块通信连接，所述ALPG运转模块和第一ALPG输出流库、第二ALPG输出流库的高速接口同时通信连接，所述ALPG运转模块和高频率交织模块通信连接，高频率交织模块和被

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117607657A

    (43)申请公布日2024.02.27

    (21)申请号202311574668.2

    (22)申请日2023.11.23

    (71)申请人合肥精智达集成电路技术有限公司

    地

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >