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本发明公开了一种太阳电池缺陷光敏阵列快速扫描检测的方法，包括以下步骤：1)采用单色光源发射器，沿可运动的钙钛矿太阳电池薄膜的法线方向照射，单色光源发射器的对应侧分布有光敏传感器阵列，用于接收穿过钙钛矿太阳电池薄膜的光信号；2)将单色光源发射器接收到的光信号转变为像素图，对像素图的灰度和白色像素特征进行分析，通过形态差别判断出薄膜缺陷类型，再通过模型计算得到薄膜缺陷参数。本发明为快速高质量检测、制备高效率大面积钙钛矿太阳电池提供了良好条件，解决了目前缺乏对于大面积薄膜缺陷在线表征技术手段的问题。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117607149A
(43)申请公布日2024.02.27
(21)申请号202311586543.1
(22)申请日2023.11.24
(71)申请人西安交通大学
地址710049
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