X荧光光谱分析.pptVIP

主要内容一.XRF基础理论二.XRF应用范围三.XRF分析原理四.仪器结构原理与参数选择五.软件基本结构及操作六.定性与定量分析基本步骤一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础光管连续X射线光谱强度公式称为连续谱-克拉马公式一.X射线理论基础光管连续X射线光谱强度公式称为连续谱-克拉马公式一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础电子跃迁产生特征X射线光谱一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础一.X射线理论基础二.XRF的应用范围三.X射线荧光光谱分析原理三.X射线荧光光谱分析原理三.X射线荧光光谱——激发三.X射线荧光光谱——分光三.X射线荧光光谱——计数三.X射线荧光光谱——测量四.X射线荧光光谱仪结构——激发源四.X射线荧光光谱仪结构——激发源四.X射线荧光光谱仪结构——激发源常用的不同靶材X光管适用范围四.X射线荧光光谱仪结构——光源四.X射线荧光光谱仪结构——激发源四.X射线荧光光谱仪结构——激发源四.X射线荧光光谱仪结构——激发源四.X射线荧光光谱仪结构——晶体分光四.X射线荧光光谱仪——晶体分光四.X射线荧光光谱仪结构——晶体分光四.X射线荧光光谱仪结构——晶体分光四.X射线荧光光谱仪结构——晶体分光四.X射线荧光光谱仪结构——晶体分光四.X射线荧光光谱仪结构——晶体分光四.X射线荧光光谱仪结构——晶体分光四.X射线荧光光谱仪结构——晶体分光四.X射线荧光光谱结构——计数四.X射线荧光光谱结构——计数四.X射线荧光光谱结构——计数四.X射线荧光光谱结构——计数四.X射线荧光光谱结构——计数四.X射线荧光光谱结构——计数四.X射线荧光光谱结构——计数四.X射线荧光光谱结构——计数脉冲高度选择器，也称脉冲高度分析器，起电子过滤器作用:1.只让落在上电平甄别与下电平甄别间的脉冲通过计数电路2.排除不必要的脉冲如：低电压噪音;晶体谐波即高次反射线脉冲；重元素高次线对轻元素一级线的干扰晶体荧光及逃逸峰；3.扣除连续谱，降低背景强度，提高灵敏度。四.X射线荧光光谱结构——计数四.X射线荧光光谱结构——计数四.X射线荧光光谱结构——计数实际的脉冲高度分布(封Xe)封Xe正比计数器四.X射线荧光光谱结构——计数四.X射线荧光光谱结构——计数CrKα光子的逃逸峰的计算X射线光谱线光子：CrKaArKa光子能量：5.41keV2.96keV逃逸峰的能量E＝CrKa-ArKa=5.41-2.96=2.45Kev四.X射线荧光光谱结构——计数探测器的能量分辨率气体正比计数器与闪烁计数器间能量分辨率的差是由入射光子能量产生的离子对的数量(n)引起的。6.晶体荧光能量干扰晶体荧光能量干扰：PX1多层薄膜晶体分析石灰石中的MgO：W，Si,Ca的干扰重元素高次线干扰排除重元素高次线脉冲干扰:（ZrO2中HfO2)-HfLa.四.X射线荧光光谱仪——测量五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法五.定量分析基本方法六.样品制备技术六.样品制备技术样品要求：均匀性颗粒度组分的整体代表性已知组分分析