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一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备.pdfVIP

一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备.pdf

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    本发明公开了一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，属于半导体检测领域，包括设备壳体和电动转盘，所述设备壳体内设置有工作台，所述电动转盘水平设置在工作台上，所述电动转盘上设置有冂型板，所述冂型板上设置有能够将LED灯珠呈竖直状态定位的定位件，所述冂型板上还设置有能够对LED灯珠进行固定的夹持机构，所述电动转盘上还设置有用于对LED灯珠供电的电源模组，所述工作台上设置有能够对LED灯珠进行亮度检测的光学检测模块；本发明通过夹持机构和定位件的共同作用下能够保证LED灯珠的稳定性，避免LED灯珠在旋

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117629888A

    (43)申请公布日2024.03.01

    (21)申请号202311528063.X

    (22)申请日2023.11.15

    (71)申请人惠州市豪恩精密注塑有限公司

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