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第7章-电子光学基础

1分辨本领-指成像物体（试样）上能分辨出来的两个物点间的最小距离。

2、光学显微镜的分辨率极限为200毫微米。

3几何像差是因为透镜磁场几何形状上的缺陷而造成的，主要指球差和像散。

4、球差即球面像差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的。远轴电子比近轴电子被折射程度过大。用小孔径成像时，可使球差明显减小。

5像散是由透镜磁场的非旋转对称而引起的。可以通过引入消像散器来补偿。

6、 色差是由于入射电子波长或能量的非单一性造成的。可以采取稳定加速电压的方法有效的减小色差。色差系数和球差系数均随透镜激磁电流的增大而减小。

7、 电磁透镜的分辨本领由衍射效应和球面相差来决定。

8、 电磁透镜的特点一一景深大、焦长大、变焦距（变倍率）。

9景深：透镜物平面允许的轴向偏差。电磁透镜孔径半角越小，景深月大

10、焦长：透镜像平面允许的轴向偏差。当电磁透镜放大倍数和分辨本领一定是，透镜焦长随孔径半角减小而增大。对于多级电磁透镜组成的电子显微镜来说，其终像放大倍数等于各级放大倍数之积。

第8章-透射电子显微镜

1、 JEM电子光学系统自上而下顺序：电子枪-聚光镜-样品室-物镜-中间镜-投影镜-观察室-荧光屏-照相系统。

2、 照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置组成。作用是提供一束亮度高、照明孔径角小、平行度好、束流稳定的照明源。常用的是热阴极三极电子枪；一般采用双聚光镜系统，第一是强激磁透镜，束斑缩小率为10~50倍，第2为弱、、，适焦时放大2倍左右。

3、 成像系统主要由物镜、中间镜和投影镜组成。透射电子显微镜分辨本领的高低主要取决于物镜，欲获得物镜的高分辨率，必须尽可能降低像差，通常采用强激磁、短焦距物镜，放大倍数为100?300，高质量的物镜其分辨率可达0、1nm左右；中间镜是一个弱激磁的长焦距变倍透镜，可在0~20倍范围调节；投影镜是一个短焦距的强磁透镜

4、 影响透射电镜分辨率的主要因素是球差和衍射效应。JEM放大倍数主要由中间镜来控制

5、 JEM的两种操作：（1）成像操作：把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，则在荧光屏上得到一副放大像；（2）衍射操作：把中间镜的物平面和物镜的背焦面重合，则在荧光屏上得到一副电子衍射花样。

6、 透射电镜的主要光阑（1）聚光镜光阑，作用是限制照明孔径角，在双聚光镜系统中，光阑长装在第2聚光镜的下方；（2）物镜光阑，有称为衬度光阑，安放在物镜的后焦面上，加入物镜光阑使物镜孔径角减小，能减小像差，得到质量较高的显微图象，另一个作用是在后焦面上套取衍射束的斑点成像；（3）选区光阑，又称场陷光阑或视场光阑，一般放在物镜的像平面位置，作用是使电子束只能通过光阑孔限定的微区。

第9章-复型技术

1、 制备复型的材料应具备以下条件：（1）复型材料本身必须是非晶态材料（2）复型材料的粒子尺寸必须很小，粒子越小，分辨率就高（3）复型材料必须具备耐电子攻击的性能。常用的复型材料是非晶碳膜和各种塑料薄膜。

2、 三种复型方法：一级复型法、二级复型法和萃取复型法。塑料一级复型和碳一级复型的不同点：首先，碳膜的厚度基本上是相同的，而塑料膜上有一个面是平面，膜的厚度随试样的位置而异；其次，制备塑料一级复型不破坏样品，而制备碳复型时，样品将遭到破坏；第三，塑料一级复型因其塑料分子较大，分辨率较低，而碳粒子直径小，故分辨率比塑料复型高一个数量级。

3、 塑料-碳二级复型的特点：一，制备复型时不破坏样品的原始表面，二，最终复型是带有重金属投影的碳膜，三，因中间复型是塑料，所以塑料碳二级复型的分辨率和塑料一级复型相当，最后，最终的碳复型是通过溶解中间复型得到的，不必从样品上直接剥离，而碳复型是一层厚度约为10nm的薄层，可以被电子束透过。

4、 粉末样品制备方法（1）胶粉混合法（2）支持膜分散粉末法。粉末或颗粒样品制备的成败关键取决于能否使其均匀分散地撒到支持膜上。

5、 透射电镜复型技术见解分析材料表面的形貌。透射电镜的主要特点是可以进行组织形貌与晶体结构的同位分析。

6、 衬度一一指在荧光屏或照相底片上，眼睛能观察到的光强度或感光度的差别。

7、 弹性散射是透射电子显微镜成像的基础，而非弹性散射引起的色差将使背景强度增高，图象衬度降低。

第10章一一电子衍射

1、 多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环；单晶衍射花样由排列的十分整齐的许多斑点组成；而非晶态物质的衍射花样只有一个漫散的中心斑点。

2、 电子衍射和X射线衍射的对比：首先，电子波的波长比X射线短的多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角很小，约为0、01rad，而X射线产生衍射时，其衍射角最大可接近n/2。其次，在进行电子衍射操作时