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- 2024-03-16 发布于江苏
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课程设计论文(设计)
题
目:
硅片的表面清洗
姓
名:
学
院:
光伏工程学院
专
业:
光伏材料加工与应用技术
班
级:
学
号:
指导教师:
目 录
摘要 1
引言 2
化学清洗方法 2
实验过程和表征方法 3
结果与讨论 4
化学清洗和除气对Si衬底的表面形貌和杂质的影响 4
1000℃退火后Si表面的XPS研究 8
结论 10
致谢 12
参考文献 13
PAGE
PAGE10
硅片的表面清洗
摘要:本文介绍了一种温和简洁的硅表面化学清洗方法,它主要包括H2SO4:H202溶液清洗和HF:c2H5OH刻蚀两个过程。清洗前后的硅表面用原子力显微镜、X射线光电子能谱(XPS)和反射高能电子衍射(RI-IEED)等技术进行表征。结果表明,运用此方法能得到平整清洁的Si表面。为了延缓H-Si表面在空气中被氧化的速率和防止杂质污染,我们提出用无水乙醇(C2H5OH)来保护H-Si表面。300oC除气前后XPS的对比结果表明,清洗后的Si表面不存在B,但吸附少量F,以及化学吸附和物理吸附都存在的C和O。根据Si2p芯能级的同步辐射光电子能谱(SRPES),可以确定Si氧化物薄膜的厚度只有一个单层,经
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