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液晶显示器Mura缺陷及测量方法浅析

张鹏;马婷婷;杨叶花;王潇潇;黄锋;谭山

【摘要】Muradefectisacommonphenomenoninliquidcrystaldisplay

(LCD),whichdirectlyaffectsthequalityofthedisplayimage.Inthispaper,

Muradefectofliquidcrystaldisplay(LCD)isreviewedindetail.First,the

typesandmainsourcesofMuradefectsaresummarized,andthenthree

kindsofmeasurementmethodsofMuradefectsareintroduced,whichare

artificialvisualrecognition,electricalmeasurementandoptical

measurement.Artificialvisualrecognitionmethodusingfilterobservation

samples,lowcost,butcantachievetheobjectiveevaluationofproduct

grades;electricalmeasurementmethodisusedintheMuracausedby

electricaldefects;opticalmeasurementmethodbasedonmachinevisionis

ahotspotofcurrentresearch,Muradefectsforvariousreasonshavegood

detectioneffect.Thecharacteristicsofvariousmeasurementmethodsare

analyzedindetail,andtheconclusionissummarized.%Mura缺陷是液晶显

示器(LCD)中常见的不良现象,直接影响到显示图像质量.本文对液晶显示器Mura

缺陷进行了详细的综述,首先概述了Mura缺陷的种类及主要来源,然后介绍了

Mura缺陷的三类测量方法:人工视觉识别法、电学测量法、光学测量法.人工视觉

识别法利用滤光片观察样品,成本较低,但无法做到客观的评定产品等级;电学测量法

适用于电气缺陷造成的Mura;基于机器视觉的光学测量法是当前研究的热点,对于

各种原因造成的Mura缺陷均具有良好的检测效果.详细分析了各种检测方法的特

点,最后进行归纳总结.

【期刊名称】《电子测试》

【年(卷),期】2017(000)006

【总页数】3页(P50-52)

【关键词】LCD;Mura缺陷;人工视觉识别法;机器视觉

【作者】张鹏;马婷婷;杨叶花;王潇潇;黄锋;谭山

【作者单位】广州计量检测技术研究院国家光电成像及显示产品质量监督检验中

心,广东广州,510030;广州计量检测技术研究院国家光电成像及显示产品质量监督

检验中心,广东广州,510030;广州计量检测技术研究院国家光电成像及显示产品质

量监督检验中心,广东广州,510030;广州计量检测技术研究院国家光电成像及显示

产品质量监督检验中心,广东广州,510030;广州计量检测技术研究院国家光电成像

及显示产品质量监督检验中心,广东广州,510030;广州计量检测技术研究院国家光

电成像及显示产品质量监督检验中心,广东广州,510030

【正文语种】中文

随着3D、4K等新技术的发展，消费者对显示性能提出了更高的要求：大尺寸、

轻薄、高清、环保节能。新工艺的引入使得显示缺陷产生的几率大大增加，Mura

即是影响液晶显示器画面品质的缺陷之一。由于Mura缺陷的等级判定直接决定

LCD面板等级划分，因此Mura缺陷的成因、检测及改善至关重要[1-3]。

1.1Mura缺陷来源

Mura由日本平板显示行业首先提出，现为平板显示行业专用术语。国际半导体设

备与材料组织(SemiconductorEquipmentandMaterialsInternational,SEMI)

等标准化组织将其定义为显示器亮度或色度不均匀，造成对比度不协调的区域[4-

10]。LCD生产工序