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北京市地方计量技术规范

JJF（京）81－2022

身高测量仪校准规范

CalibrationSpecificationforHeightMeasurement

2022-04-08发布2022-05-08实施

北京市市场监督管理局发布

JJF（京）81-2022

身高测量仪校准规范

身高测量仪校准规范

CalibrationSpecificationfor

HeightMeasurement

JJF（京）81-2022

归口单位：北京市市场监督管理局

起草单位：北京市计量检测科学研究院

本规范委托北京市计量检测科学研究院负责解释

2

本规范主要起草人：

刘兴荣（北京市计量检测科学研究院）王雪（北京市计量检测科学研究院）岳春然（北京市计量检测科学研究院）

参加起草人：

张博（北京市计量检测科学研究院）王志超（北京市计量检测科学研究院）董志佼（北京市计量检测科学研究院）

JJF（京）81-2022

I

目录

引言 ∥

1.范围 1

2.概述 1

3.计量特性 3

3.1.测砧工作面与底座上平面的平行度 3

3.2.示值误差 3

3.3.示值重复性 3

3.4.最大测力 3

4.校准条件 3

4.1.环境条件 3

4.2.校准用的标准器及其他设备 3

5.校准项目和校准方法 4

5.1.测砧工作面与底座上工作面的平行度 4

5.2.示值误差 4

5.3.示值重复性 5

5.4.测量力 5

6.校准结果 5

7.复校时间间隔 6

附录A 7

II

引言

JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》、JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1094-2002《测量仪器的特性评定》共同构成本校准规范制定工作的基础性系列规范。

本技术规范是首次制订。

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身高测量仪校准规范

1.范围

本规范适用于身高测量仪（计）及其它人体身高体重测量秤身高部分的校准。其他身高测量仪可参照本规范进行校准。

2.概述

身高测量仪是用于测量身高、坐高的仪器，包括采用刻度尺的身高测量仪和采用电子传感器的身高测量仪。身高测量仪按仪器结构分为机械式和电子式；按测量方式分为接触式和非接触式；按被测对象的姿势可分为立式、坐式和卧式。身高测量仪广泛应用于医疗卫生、健康体检等相关行业。

图1刻度尺身高测量仪

1—测砧；2—刻度尺；3—底座

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图2电子传感器身高测量仪

1—测高探头；2—立柱；3—底座

图3坐式身高测量仪

1—测砧；2—刻度尺；3—坐高底座；4-身高底座

2

3

图4卧式身高测量仪

1—刻度尺；2—测砧；3—底座；

3.计量特性

3.1.测砧工作面与底座上平面的平行度

3.2.示值误差

3.3.示值重复性

3.4.最大测力

4.校准条件

4.1.环境条件

温度：（20±5）℃。湿度：≤85%RH

校准前，被校准仪器和校准标准器在室内平衡温度的时间不小于0.5h。

4.2.校准用的标准器及其他设备

推荐使用表1所列校准用的标准器及其他设备，允许使用满足不确定度要求的其他测量标准及其他设备进行校准。

表1校准用标准器及其他设备

序号

校准项目

标准器和其他设备

1

测砧工作面与底座上平面的平行度

3级量块，他设备：量块专用夹具及测头

2

示值误差

3级量块，其他设备：量块专用夹具及测头

3

示值重复性

3级量块，其他设备：量块专用夹具及测头

4

最大测力

测力计，MPE：±0.5%，分辨力：0.1N，

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5.校准项目和校准方法

标准器与身高测量仪同室内等温应不少于0.5h，电子式身高测量仪开机后，按厂家规定的时间进行预热，如果没有规定的预热时间，一般预热时间不少于15min。

身高测量仪的外形结构应完好，不应有机械损伤及变形。各部位的按键开关应灵活可靠，数显仪表或刻度尺应无妨碍读数的缺陷，仪器能够正常工作。带有自校准功能的仪器应能正常进行自校准。

5.1.测砧工作面与底座上工作面的平行度

测砧工作面与底座上平面的平行度（适用于接触测量的身高测量仪）≤0.5mm。

组合中心长度在身高测量仪测量上限附近的一组量块，根据测砧工作面的面积大小在测砧工作面中心及边缘附近选取三到五个位置分别测量量块组的中心长