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本发明公开了一种微波集成电路的电性能预测和快速初筛检测系统及方法，系统包括夹具、多端口源测量模块、多路多状态模拟控制模块，以及主控单元；夹具用于实现待测微波集成电路的装载，多端口源测量模块用于提供多路直流供电电源，对相应通道的直流特性参数进行测量；多路多状态模拟控制模块用于提供多路模拟工况不同状态的时钟及激励信号，并进行多路状态监测及触发响应与处理；主控单元包含测控软件及预测模型学习训练软件，是整个系统的控制中心。本发明所公开的系统及方法可以一次性同时而非分时地自动完成N个微波集成电路的电性能预
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117686885A
(43)申请公布日2024.03.12
(21)申请号202311717298.3G06F18/24(2023.01)
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