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本发明公开了一种芯片测试recipe管理方法、系统、存储介质及设备，涉及半导体集成电路技术领域，该方法包括：根据LED芯片测试的电参数和光参数，在芯片测试机上建立若干recipe；对所有的LED芯片进行分类；基于电参数和光参数，将同一类别的LED芯片的不同recipe进行关联，得到不同recipe的关联系数以及不同recipe的基准数据；将LED校正芯片进行对应recipe测试，得到LED校正芯片的测试数据；基于测试数据与基准数据的差异，对对应recipe进行修正；基于差异和同一类别的不同rec
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117691006A
(43)申请公布日2024.03.12
(21)申请号202311469253.9
(22)申请日2023.11.07
(71)申请人江西兆驰半导体有限公司
地址3
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