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本申请提供了一种基于双核锁步处理器的流水线加固方法及系统,基于Lockstep技术针对流水线进行了抗辐射加固设计,用硬件及时保存处理器状态,发生错误时由软件方面执行恢复错误的程序,并加上少数三模冗余的方法对双核锁步处理器加固后,内核绝大部分模块的平均系统软错误率下降到了1%以下,对比基于检查点的Lockstep方法有更高的恢复成功率,在LUT逻辑资源消耗和寄存器资源消耗方面都小于全三模冗余方法,资源消耗是全三模冗余的70%左右。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117687846A
(43)申请公布日2024.03.12
(21)申请号202311578954.6
(22)申请日2023.11.24
(66)本国优先权数据
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