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本发明涉及半导体器件技术领域,具体公开了一种基于4H‑SiC衬底的高性能CMOS器件,包括4H‑SiC衬底、NMOS沟道、PMOS外延层、PMOS沟道、NMOS欧姆电极和PMOS欧姆电极,本发明的基于4H‑SiC衬底的高性能CMOS器件,以具有较高热导率的4H‑SiC作为衬底,同时采用具有圆角状鳍片的FinFET结构,一方面可以缓解器件的散热压力,使其可以在高温下稳定工作,另一方面抑制短沟道效应,提升载流子迁移率,栅控能力更强,具有更广阔的应用领域。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117712124A
(43)申请公布日2024.03.15
(21)申请号202410160894.4
(22)申请日2024.02.05
(71)申请人中国科学院长春光学精密机械与物
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