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本发明公开了一种间接访问寄存器的测试方法、装置、设备及介质。IP级测试方法包括：根据与目标间接访问寄存器匹配的前门访问路径和后门访问路径，建立前后门访问路径映射关系；根据前后门访问路径映射关系和前门读写方法，构建IP级测试激励对目标间接访问寄存器进行IP级测试。SoC级测试方法包括：根据与待测的系统级测试场景匹配的场景描述信息以及与目标间接访问寄存器对应的前后门访问路径映射关系，生成用于进行SoC级测试的激励文件，对所述目标间接访问寄存器进行SoC级测试。本发明实施例的技术方案实现了一种标准化的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117709255A
(43)申请公布日2024.03.15
(21)申请号202410153866.X
(22)申请日2024.02.04
(71)申请人北京燧原智能科技有限公司
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