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本申请涉及一种电子元器件的可靠性地图构建方法、装置及计算机设备，涉及电子器件技术领域。包括：根据地图内各地区气候条件，确定适合贮存的至少一个地区；获取电子元器件在各地区贮存的情况下相应的可靠性参数，可靠性参数用于表征电子元器件在相应地区贮存下的有效程度；基于地理信息系统、至少一个地区和各地区相应的可靠性参数，绘制电子元器件贮存相应的可靠性信息地图，并显示可靠性信息地图。由于可将各地区贮存电子元器件时相应的可靠性参数，通过可靠性信息地图的方式进行显示，从而可以便于相关工作人员更直观获取各地区的气候
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117708259A
(43)申请公布日2024.03.15
(21)申请号202311817547.6G06Q10/0875(2023.01)
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