发明授权-201510251375.X-一种标定多光轴光学系统光轴平行度的装置及其标定方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN105091792B

(45)授权公告日

2017.11.03

(21)申请号201510251375.X(56)对比文件

(22)申请日2015.05.12CN103116209A,2013.05.22,

CN204854657U,2015.12.09,

(65)同一申请的已公布的文献号

CN202522207U,2012.11.07,

申请公布号CN105091792A

KR20110078597A,2011.07.07,

(43)申请公布日2015.11.25FR2591767A1,1987.06.19,

黄欣等.多光轴光学系统光轴间平行性检测

(73)专利权人西安邮电大学

仪的研制.《应用光学》.2015,第36卷(第1期),

地址710000陕西省西安市长安南路563号

审查员罗亚梅

(72)发明人李春艳巩稼民汤琦乔琳

(74)专利代理机构北京科亿知识产权代理事务

所(普通合伙)11350

代理人汤东凤

(51)Int.Cl.

G01B11/26(2006.01)

G01B11/27(2006.01)

G01M11/02(2006.01)权利要求书1页说明书4页附图1页

(54)发明名称

一种标定多光轴光学系统光轴平行度的装

置及其标定方法

(57)摘要

本发明公开了一种标定多光轴光学系统光

轴平行度的装置及其标定方法，装置包括高精度

自准直经纬仪、平面反射镜、待标定多光轴光学

系统、基座、十字靶板和旋转平台，多光轴光学系

统和平面反射镜均安装在基座上，基座放置于旋

转平台上，十字靶板固定在光学系统前端最大镜

头焦距1000倍以外位置，自准直经纬仪设置在平

面反射镜后端并瞄准；通过多次旋转平台，获得

每次自准直经纬仪瞄准测量平面反射镜的方位

值，计算多次测量的方位值即可得各光轴所在方

位。本发明能降低检测设备的制作和安装难度，

B对场地要求不高，测量操作方便，适用性高，消除

2了平面镜的安装误差，适用于多光轴光学系统以

9

7

1及多光谱的多光轴光学系统光轴平行度的测量

9

0

5或标定。

0

1

N

C

CN105091792B权利要求书1/1页

1.一种标定多光轴光学系统光轴平行度的装置，包括高精度自准直经纬仪、平面反射

镜、待标定多光轴光学系统、基座、十字靶板和旋转平台，其特征在于，所述多光轴光学系统

和平面反射镜均安装在基座上，且平面反射镜位于多光轴光学系统后端，所述基座放置于

旋转平台上，所述十字靶板固定在待标定多光轴光学系统前端最大镜头焦距1000倍以外的

位置，所述自准直经纬仪设置在平面反射镜后端且瞄准测量平面反射镜。

2.根据权利要求1所