透射电子显微术课件.pptxVIP

緒論;場離子顯微鏡：原子相，制樣特別困難（針尖樣品）

STM、AFM：原子相，材料組裝（僅作表面分析）;

;AL-Mn（1984）;Al-Cu-Ru（1997）;Chapter1.TEM構造及原理;（3）降低????提高解析度

可見光：?＝400nm—800nm,?rc=200nm

紫外光：?＝13nm-400nm,

?200nm??rc=100nm(提高一倍)

X－ray:?Cu=1.57?,?Mo=0.707?,

但不能聚焦和成相。

e-Beam:電場或磁場中能聚焦，可用於成相。;2.電子波長：?＝12.25/;3.電子透鏡（使電子束聚焦成象的裝置）

靜電透鏡

（1）電子透鏡

電磁透鏡

(2)聚焦原理F＝－e(VxB)

;（3）電子透鏡的聚焦原理;磁轉角

焦距

.

強、弱透鏡：強透鏡f與磁場範圍差不多

弱透