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半导体裸片的缺陷检测结构、半导体装置和缺陷检测方法.pdfVIP

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  • 2024-03-20 发布于四川
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半导体裸片的缺陷检测结构、半导体装置和缺陷检测方法.pdf

    提供了一种半导体裸片的缺陷检测结构、半导体装置和缺陷检测方法。所述半导体装置包括半导体裸片、缺陷检测结构和输入输出电路。半导体裸片包括中心区域和围绕中心区域的外围区域。外围区域包括左下角区域、左上角区域、右上角区域和右下角区域。缺陷检测结构形成在外围区域中。缺陷检测结构包括位于左下角区域中的第一导电回路、位于右下角区域中的第二导电回路、位于左下角区域和左上角区域中的第三导电回路以及位于右下角区域和右上角区域中的第四导电回路。输入输出电路电连接到第一导电回路、第二导电回路、第三导电回路和第四导电回

    (19)中华人民共和国国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN110911386A

    (43)申请公布日

    2020.03.24

    (21)申请号20191

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