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本发明提供了一种参数确定方法、装置、电子设备及存储介质，涉及参数优化领域，方法包括：获取目标对象的仿真模型、多个待优化参数以及每个待优化参数的参数取值范围；根据多个待优化参数和每个待优化参数的参数取值范围，确定目标采样点集；从目标采样点集中获取初始采样点集；将初始采样点集中的每个初始采样点输入至仿真模型，得到仿真结果；根据初始采样点集和仿真结果，构建降阶模型，降阶模型用于确定每个待优化参数对应的目标优化参数。如此，通过构建降阶模型，能够同时确定目标对象的多个目标优化参数，提升了参数确定的效率，且
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117725756A
(43)申请公布日2024.03.19
(21)申请号202311851249.9
(22)申请日2023.12.29
(71)申请人北京树优信息技术有限公司
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