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芯片测试设备及方法、通讯设备和计算机存储介质.pdf

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    本发明提供一种芯片测试设备及方法、通讯设备、计算机存储介质和芯片模组，所述芯片测试设备具有多个测试模块和多个测试位，每一所述测试位均与所有所述测试模块相连，每一测试位用于与一芯片相连，每一测试模块在测试时依次与每一测试位连通，以依次对每一测试位上的芯片进行测试。通过在芯片测试设备上根据测试项目构建多个测试模块，并设置多个测试位，从而使得多个芯片能够逐位进行每一测试模块的测试，使得芯片在进行后续测试时，前面已测试完的测试模块可以对后续芯片进行连续测试，从而提升了测试模块的测试效率，提高了测试设备单

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117727358A

    (43)申请公布日2024.03.19

    (21)申请号202311719693.5

    (22)申请日2023.12.13

    (71)申请人展讯通信（上海）有限公司

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