一种芯片缺陷的检测方法、装置、设备和存储介质.pdfVIP

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2024-03-23 发布于四川
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一种芯片缺陷的检测方法、装置、设备和存储介质.pdf

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本发明公开了一种芯片缺陷的检测方法、装置、设备和存储介质，属于图像数据处理技术领域，方法包括：获取标准模板与样本数据集；通过K‑Means聚类算法，对芯片图像进行分割，分割出焊点区域与背景区域；将各个焊点区域与标准模板进行比对，对各个焊点区域进行粗略检测；通过卷积神经网络，对粗略检测存在缺陷的焊点区域进行精细检测；通过样本数据集中的多个芯片图像，对芯片缺陷检测模型进行训练；获取实时芯片图像；通过训练完成的芯片缺陷检测模型，判断实时芯片图像中的焊点区域是否存在缺陷；若是，确定实时芯片图像中的焊点区

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117746077A

(43)申请公布日2024.03.22

(21)申请号202410186346.9G06T7/11(2017.01)

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