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本发明公开了一种密封圈低温密封性能的检测装置及检测方法，包括：低温槽和置于低温槽内的缸体；缸体内滑设有轴，轴上设有气流通道，气流通道的入口设置在轴侧壁上、出口设置在轴尾端面；缸体的头端设有封闭端盖，封闭端盖与轴的前端面之间形成有封闭的进气腔，进气腔与检测气瓶相连通；缸体的尾端设有挡盖，气流通道的出口依次连接有检测气质谱仪和真空泵；气流通道的入口两侧的轴侧壁与缸体内壁之间安装有待测试密封圈和第二密封圈；测试时，检测气瓶的检测气依次经第一检测气管路、进气腔、待测试密封圈、气流通道和第二检测气管路进入
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117740260A
(43)申请公布日2024.03.22
(21)申请号202311550787.4G01M13/005(2019.01)
(22)申请日2023.11
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