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本发明涉及沟槽型IGBT半导体器件结构的改进,具体为SiC基分裂栅沟槽型IGBT半导体器件结构及制造方法,在不增加现有工艺难度和制造成本的前提下完成对较高电流密度的SiC基IGBT半导体器件的制造;包括第一类导电型衬底(1);设置第一类导电型衬底(1)上部的第二类导电型缓冲层(2);设置第二类导电型缓冲层(2)上方的第二类导电型漂移层(3);设置第二类导电型漂移层(3)上表面的第一类导电型掺杂区(4);设置第一类导电型掺杂区(4)局部上表面的第二类导电型掺杂区(5);设置第二类导电型漂移层(3)
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117790554A
(43)申请公布日2024.03.29
(21)申请号202410092260.X
(22)申请日2024.01.23
(71)申请人无锡祥瑞微电子科技有限公司
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