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2024-03-30 发布于四川
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本申请公开了一种老化测试设备，涉及芯片测试技术领域。老化测试设备包括设置有测试腔、风道、柜门和敞口的机柜，与柜门连接的第一驱动装置、与测试板可拆卸连接的第二驱动装置以及设置于风道内的鼓风装置和控温装置。测试腔内的每个测试位用于放置一个承载有待测试产品的测试板，鼓风装置用于将气流从出风口吸入风道内，并将气流从进风口吹入测试腔内，控温装置用于使气流的温度保持在预设温度范围内。本申请提供的老化测试设备，能够实现自动打开关闭柜门、将测试板安装到位和提供产品老化所需的高低温环境，从而对待测试产品进行老化测

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117783830A

(43)申请公布日2024.03.29

(21)申请号202311872952.8

(22)申请日2023.12.29

(71)申请人成都态坦测试科技有限公司

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