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材料测试分析方法

透射电子显微镜1

目录

01

透射电子显微镜

概述

一、透射电子显微镜概述

透射电子显微镜英文全称为TransmissionElectronMicroscopy,简称TEM。

透射电镜的特点:是我们洞察物质微观结构的利器，其特点是微观且直观，可同时对材料进行结构和成分分析。

自20世纪30年代透射电镜问世以来，特别是70年代以后，具有高分辨率的透射电镜和分析型电镜的出现，使得我们可以在纳米或原子尺度上研究物质的显微结构、化学组成以及电子结构，大大加深了我们对物质结构与性能关系的理解。从而极大地推进了物理、化学、材料、地质矿物、生命科学相关等领域的发展。

一、透射电子显微镜概述

TEM采用高速运动的电子束作为光源，通过高能电子与物质的相互作用，利用透过物质的电子及其它激发的其它信号（如X射线），从而能帮助我们获取物质微观的结构信息。TEM具有极高的空间分辨本领，甚至可以达到亚埃级（1nm=10Å)。

结合其它附件和电镜技术，可以同时获得材料的微区形貌、成分和晶体结构等多种相关信息。TEM已成为材料科学研究中不可或缺的重要分析手段之一。

材料研究的基本任务就是根据材料实际使用所需的性能来设计成分和工艺，以获得理想的微观组织，从而达到预期的性能。

材料的微观组织直接决定了材料的性能，因此根据材料的微观组织，我们就能分析和判断材料的性能好坏；同时，材料的微观组织取